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高分辨透射电子显微镜(HRTEM)

作者:sbc  添加时间:2016-01-14  浏览次数:

高分辨透射电子显微镜(HRTEM  

厂家型号:日本电子,JEM           -2100F      

技术指标:  

1.       点分辨率:0.19nm

2.       线分辨率:0.14nm

3.       加速电压:80/100/120/160/200KV

4.       倾斜角:25°

5.       STEM分辨率:0.20nm

应用范围:对软材料的研究,如:生物材料、高分子材料、有机物、软金属等;对中性材料的研究,如:半导体材料、化合物、超导材料、陶瓷、碳纤维/聚合物、多相材料、多层膜/金属、金属间化合物、易挥发组分材料等;对硬和脆的材料的研究,如:氧化物Al2O3MgOSrTiO3等,多层膜/氧化物、陶瓷、多层膜/金属、多相材料、金属、粉末、纤维和纳米晶颗粒等。可用于普通微结构的研究,薄膜和表面附近微结构的研究,薄膜和界面的微结构的研究等。