高分辨透射电子显微镜（HRTEM）
厂家型号：日本电子，JEM
-2100F
技术指标：
1. 点分辨率：0.19nm
2. 线分辨率：0.14nm
3. 加速电压：80/100/120/160/200KV
4. 倾斜角：25°
5. STEM分辨率：0.20nm
应用范围：对软材料的研究，如：生物材料、高分子材料、有机物、软金属等；对中性材料的研究，如：半导体材料、化合物、超导材料、陶瓷、碳纤维/聚合物、多相材料、多层膜/金属、金属间化合物、易挥发组分材料等；对硬和脆的材料的研究，如：氧化物Al2O3、MgO、SrTiO3等，多层膜/氧化物、陶瓷、多层膜/金属、多相材料、金属、粉末、纤维和纳米晶颗粒等。可用于普通微结构的研究，薄膜和表面附近微结构的研究，薄膜和界面的微结构的研究等。
